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英特尔公布突破摩尔定律新技术:3D 堆叠芯片互联密度改善十倍

发布时间:2025年09月27日 12:20

IT之家 12 月底 12 日消息,根据外媒 VideoCardz 报导,Intel现在发表文章,揭晓了突破不够进一步的三种新核心技术。这些核心技术的目标是在 2025 年便,还能够使得中央处理器核心技术一直发展。

在在 2021 年 IEEE 国际带电粒子设备内阁会议上,Intel揭晓了多中央处理器分离填充网络量大大提高 10 倍、晶体管量进一步大大提高 30%-50%、新的继电器和存储器核心技术以及粒子计算中央处理器核心技术等等。

Intel阐述了现今不太可能揭晓的一些科技核心技术,包括 Hi-K 金属栅极、FinFET 晶体管、RibbonFET 等。在路线图中,Intel还展现了多种中央处理器工艺,其中包括 Intel 20A PCB,将命题二门的体积进一步缩小,取名为 Gate All Around。

▲ Intel揭晓的八大核心技术突破

以下具体内容:

1、Intel新型 3D 封装、多中央处理器填充核心技术:Foveros Direct

这项核心技术运用多种中央处理器分离填充的场景,可以将并不相同功能、并不相同PCB的中央处理器以相邻或者层叠的形式融合在一起。Foveros Direct 核心技术使得上下中央处理器之间的直达点量进一步大大提高了 10 倍,每个直达点的间距小于 10 微米。

这项核心技术支持者将 CPU、GPU、IO 中央处理器紧密融合在一起,同时还适配来自在并不相同产品的中央处理器分离进行填充。

官方透露,该方案有较高的灵活性,支持者客户服务依据并不相同的需求灵活定制中央处理器组合。此外,Intel呼吁业界规章统一的国际标准,便于并不相同中央处理器之间的网络。

Intel于 2021 年 7 月底展现了 RibbonFET 新型晶体管虚拟化,作为 FinFET 的替代。全新的填充形式可以将 NMOS 和 PMOS 封装在一起,紧密网络,从而在自由空间上大大提高中央处理器的晶体管量。这种形式能在PCB不便的情形,将晶体管量进一步大大提高 30% 至 50%,直到现在不够进一步。

此外,Intel还透露可以将二维碳化扩展中央处理器的装配中,可以使得直达东北方不够短,解决传统文化锗中央处理器的科学约束。这种二维碳化为单层二硫化钼 MoS2,运用锗中央处理器直达层可以使得间距从 15nm 缩小至 5nm。

2、不够高效的继电器核心技术和 DRAM 内存中央处理器核心技术

现今Intel不太可能首次借助在 300 毫米锗晶圆上,装配拥有 GaN 氮化镓开关的 CMOS 中央处理器。这项继电器核心技术支持者不够高的功率,原料继电器管理中央处理器可以愈发精确迅速地控制 CPU 的功率,有利于减少损耗,此外,这种中央处理器还能够减少主板上的电网元件。

上图左边展现的是Intel研发的低延迟内存核心技术:FeRAM。这种中央处理器将铁元素扩展中央处理器的装配,可以大大大大提高内存中央处理器的手写速度,在 2 纳秒内完成手写。同时,FeRAM 核心技术能够大大提高内存中央处理器的量。

3、基于锗中央处理器的粒子浮点运算中央处理器,有望在将来取代 MOSFET 晶体管

随着将来晶体管量进一步进一步大大提高,传统文化的锗中央处理器将走向科学极限。在 IEDM 2021 大会,Intel示范了世界上第一个在室温下借助磁电自旋轨道(MESO)的命题集成电路。这代表者了装配聚乙烯尺度的粒子浮点运算晶体管成为可能。

Intel和 IMEC 正要自旋带电粒子碳化研究方面取得进展,原订将来可以装配造出能够原型机的系统设计集成电路。此外,Intel还示范了与现今 CMOS 中央处理器适配的 300mm 晶圆粒子浮点运算电路的装配,并确立了将来的研究方向。

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